
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
產(chǎn)品型號:
所屬分類(lèi):Keithley 半導體測試系統
產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-09
簡(jiǎn)要描述:Keithley 4200A-SCS 參數分析儀,使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀,使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
型號 | 描述 |
4200A-SCS-PK1 | 210V/100mA,0.1 fA 分辨率
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4200A-SCS-PK2 | 210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz
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4200A-SCS-PK3 | 210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz
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4200-BTI-A | 用于使用硅 CMOS 技術(shù)進(jìn)行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括:
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模塊 | 描述 |
4200A-CVIV | I-V/C-V 多開(kāi)關(guān)模塊 |
4201-SMU | 用于高電容設置的中功率源測量單元 |
4211-SMU | 用于高電容設置的高功率源測量單元 |
4201-SMU-R | 用于高電容設置的現場(chǎng)可安裝中功率源測量單元 |
4211-SMU-R | 用于高電容設置的現場(chǎng)可安裝高功率源測量單元 |
4200-SMU | 中功率源測量單位 |
4210-SMU | 大功率源測量單元 |
4200-SMU-R | 可現場(chǎng)更換的 MPSMU |
4210-SMU-R | 可現場(chǎng)更換的 HPSMU |
4200-PA | 遠程預放大器模塊 |
4210-CVU | 電容-電壓?jiǎn)挝?/span> |
4220-PGU | 高電壓脈沖發(fā)生器單元 |
4225-PMU | 超快速脈沖測量單位 |
4225-RPM | 遠程預放大器/開(kāi)關(guān)模塊 |
4200-BTI-A | 超快速 BTI 包 |
參數查看,快速清晰。
執行 CV 掃描的 4200A-SCS 和 4200A-CVIV 的正視圖
大膽發(fā)現從未如此簡(jiǎn)單。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%,提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外,嵌入式測量專(zhuān)業(yè)知識可提供測試指南并讓您對結果充滿(mǎn)信心。
特點(diǎn):
•內置英語(yǔ),中文,日語(yǔ)和韓語(yǔ)版本的測量視頻
•使用數百個(gè)用戶(hù)可修改應用測試開(kāi)始您的測試
•自動(dòng)實(shí)時(shí)參數提取、數據繪圖、算數函數
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無(wú)需重新布線(xiàn)或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時(shí)輕松排除故障。
特點(diǎn):
無(wú)需重新布線(xiàn)即可將 C-V 測量移動(dòng)到任何設備終端
用戶(hù)可配置低電流功能
個(gè)性化輸出通道名稱(chēng)
查看實(shí)時(shí)測試狀態(tài)
穩定的低電流測量,適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU,對高電容測試連接進(jìn)行穩定的低電流測量
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統中實(shí)現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過(guò)定制滿(mǎn)足您所有的 I-V 測量需求。通過(guò)提供現場(chǎng)可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量,而停機時(shí)間很少甚至沒(méi)有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU,通過(guò)高測試連接電容進(jìn)行穩定的低電流測量
特點(diǎn):
不必將儀器送回工廠(chǎng)即可增加 SMU
進(jìn)行 飛安測量
多達 9 個(gè) SMU 通道
針對長(cháng)電纜或大卡盤(pán)進(jìn)行了優(yōu)化
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
晶片探測站前面的 Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點(diǎn)
•“點(diǎn)擊”測試定序
•“手動(dòng)”探測器模式測試探測器功能
•假探測器模式無(wú)需移除命令即可實(shí)現調試