電路板邏輯掃描探測儀

IST5700D是由美國IST公司開(kāi)發(fā)研制的一種小型邏輯在線(xiàn)測試儀，由于該設備體積小、功能
強、價(jià)格較低，不需要任何附加的軟件及專(zhuān)業(yè)培訓就可以掌握使用特點(diǎn)，因此對一些小型維
修網(wǎng)點(diǎn)和檢測站的維修排障和調試特別適用。
性能特點(diǎn)：“參考板”和“被測板”，的數據自動(dòng)逐點(diǎn)比較功能。  
zui多具有4個(gè)獨立輸入端口，每個(gè)端口可檢測80通道，通過(guò)插接不同的測試夾，可對DIP，
PLCC,SO和SOJ封裝形式的器件進(jìn)行檢測。
內置通用邏輯狀態(tài)指示器，外接通用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭，自動(dòng)調節量程的3位半數字電壓
表（DVM），均可對被測管腳的邏輯狀態(tài)進(jìn)行指示，并可通過(guò)顯示屏顯示電壓值。
低失真，高帶寬的模擬緩沖器，可將被測管腳的信號通過(guò)接口接到示波器或其它測試設備
上。便于更加仔細的觀(guān)察波形，顯示測量結果，幫助維修人員快速分析故障點(diǎn)。
備有后備電池的CMOS RAM，可以存儲由用戶(hù)編制的測試點(diǎn)探測順序的程序編制，存儲和調出
都非常容易。
借助脈沖存儲器捕捉連續的時(shí)鐘脈沖行測試，也能單純傳輸信號，進(jìn)行非實(shí)的管腳處自動(dòng)停
下或報警，比傳統的邏輯探測或示波器探更加快捷可靠。
應用：它具有強大的比較功能，可針對被測板和標準板選擇實(shí)時(shí)或非實(shí)時(shí)的比較，通過(guò)變換
不同管腳數的測試夾，對兩塊板子上的同種芯片快速測試，也可用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭逐
點(diǎn)測試。
另外，它可以針對基于微處理器的系統板進(jìn)行測試。用戶(hù)只要把被測板與標準板的CPU時(shí)鐘
和復位線(xiàn)互連在—起，使兩板同步，就可按照對普通板測試的步驟進(jìn)行。在兩相同板上使用
相同的EPROM診斷，能更好的幫助整板測試。
由于以上優(yōu)點(diǎn)，它廣泛應用在電子測試測量，電子維修保養，檢驗等領(lǐng)域，大大提高檢測的
準確性及效率，達到了事半功倍的效果。因此，受到了越來(lái)越多的專(zhuān)業(yè)與非專(zhuān)業(yè)人士的青
睞。愿它也成為您的好幫手。

參數
規范
夾具探頭 
輸入阻抗 通道“ON” -1兆歐
通道“ OFF”-90兆歐
過(guò)載保護 +/15V 連續 +/18V 2分鐘
（測試儀必須在電源閉合狀態(tài)下）
輸出端口 zui大輸出電流：+80mA -45mA
zui大輸出電壓擺幅： +15.5V 9.5V
輸入zui小脈寬：帶地線(xiàn)夾 -50nS
W/O地線(xiàn)夾-75nS
zui大頻率響應：20MH2
可探測zui小三態(tài)脈寬 TTL -1us
CMOS-10us
 
手持邏輯筆 
輸入阻抗： 兆歐
輸入過(guò)載保護： +/-150VDC，+/-75VAC
zui大頻率響應： 20MH2
輸入zui小脈寬 75nS（帶小型地線(xiàn)夾）
脈沖模式： 每按一次鍵產(chǎn)生一個(gè)脈沖
脈沖發(fā)生器阻抗： 在活動(dòng)狀態(tài)時(shí)為2歐姆
關(guān)斷狀態(tài)下為 1.5兆歐
脈沖發(fā)生器短路保護：連續
脈沖發(fā)生器過(guò)載保護： +/-75V DC連續
+/-125V DC一分鐘
實(shí)時(shí)比較延遲： 范圍1-200 nS,+/-10％
范圍 2-1000ns,+/-10％
系統參數 
重量：凈重 5.5公斤總重8公斤
尺寸： 11.4 X 43.7 X 30cm
溫度： 0—55℃
電壓： 115VAC或220VAC+1-10％
50—60HZ
功耗： 30W
 
型號
IST5700DⅡ 
IST5700D Ⅳ 
通道
40 X 2路通道
40 X 4路通道
選件
40通道測試探頭
價(jià)格
37,800
43,000
產(chǎn)地
美國 IST