ICT4040XP/4880XP/8080XP 電路板故障檢測儀
keqi[ICT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來(lái)彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對各種類(lèi)型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測試，在線(xiàn)檢測元器件好壞，迅速檢測到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟地修好各種類(lèi)型電路板。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
| ◆*的測試技術(shù)，強大的驅動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好 |
| ◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專(zhuān)業(yè)訓練，任何人均可成為維修專(zhuān)家 |
| ◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修 |
| ◆40/40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫 |
| ◆40/40×2（ASA）V/I，曲線(xiàn)分析測試功能 |
| ◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較 |
| ◆與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便 |
| ◆通用于各類(lèi)雙列直插式封裝芯片，可為大中規模集成電路提供分析測試 |
| ◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習記錄，比較分析來(lái)測試 |
工作原理： 全功能ASA+ICT測試器
ASA（Analong signature Analysis）對元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅動(dòng)電壓信號，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲，以備比對。所有測試都是在靜態(tài)下（不加電）執行，所以不會(huì )傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲各類(lèi)IC每個(gè)管腳V/I曲線(xiàn)圖形，并且對各類(lèi)分立元件如：電阻、電容等同樣有效。
ICT（In circuit Testing）它能把待測元件與PC資料庫內相對應的元件資料作邏輯功能測試比較，測試時(shí)可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應輸出管腳的實(shí)測波形及標準波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測試IC好壞，也可測試分析，還可識別不明型號的IC。
[ICT]系列檢測儀檢測更加可靠準確
■ 功能測試軟件設上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測試 ■ 功能測試外供電源穩定可靠——各種大、中、小型被測電路板皆可測試 ■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負載能力下降故障 ■ V/I測試正負掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線(xiàn) ■ V/I測試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線(xiàn)測試穩定可靠 ■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類(lèi)器件的V/I測試集成電路在線(xiàn)功能測試
集成電路在線(xiàn)狀態(tài)測試
本功能采用后驅動(dòng)隔離技術(shù)，可在線(xiàn)判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲器等千余種集成電路。
1、快速測試：直接顯示測試結果，迅速確定可疑IC
2、分析測試：顯示全部測試過(guò)程，測試激勵。預期和實(shí)際響應，幫助分析故障原因
3、器件識別：查找無(wú)標記型號IC或同功能不同型號的IC。
集成電路在線(xiàn)狀態(tài)測試
通過(guò)好壞板上相應IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。
1、狀態(tài)學(xué)習：在線(xiàn)學(xué)習*IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應，并存入數據庫中
2、狀態(tài)比較：同故障板上相應IC在線(xiàn)進(jìn)行狀態(tài)比較，根據兩者差異判定IC好壞
3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態(tài)資料。
集成電路離線(xiàn)功能測試
離線(xiàn)測試IC功能好壞，自動(dòng)識別未知型號的芯片
IC邏輯圖查詢(xún)
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數。
V/I曲線(xiàn)測試
通過(guò)好壞板上相應節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節點(diǎn)及故障IC
1、學(xué)習：在線(xiàn)學(xué)習*板上各節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線(xiàn)（V/I曲線(xiàn)），并存入數據庫中
2、曲線(xiàn)比較：同故障板上相應節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線(xiàn)進(jìn)行比較，根據差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞
3、曲線(xiàn)顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個(gè)節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大
網(wǎng)絡(luò )提取測試
使用戶(hù)方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現網(wǎng)絡(luò )提取采用了四種模式：
| 1、探棒對探捧（“棒”—“棒”模式） | 3、測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式） |
| 2、探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式） | 4、測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式） |
開(kāi)發(fā)編譯
TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉換后即可與相應子測試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看相應說(shuō)明文件。
| 1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法 a）在TVED圖形界面上直接建立 b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結果 |
| 2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加以調整、修改。 |
| 3、4種測試方式： a）完整執行一個(gè)測試 b）執行一個(gè)測試的一部分c）循環(huán)執行 d）單步運行 |
| 型號 | ICT4040XP | ICT4880XP | ICT8080XP |
| 通道 | ICTF: 40th V/I曲線(xiàn):40th | ICTF: 40th V/I曲線(xiàn): 80th | ICTF: 40×2th V/I曲線(xiàn): 80th |
| 附件 | 雙列直插夾具（7件） 表面貼雙列直插夾具（7件） 單排式40腳夾具（3件） |
| 價(jià)格 | 28,000 | 36,000 | 48,000 |
| 產(chǎn)地 | 科奇儀器 |
補充：ICT4080P/8080P系統功能
| 單個(gè)器件功能測試 | IC狀態(tài)測試 | VI曲線(xiàn)分析 | PROM操作 | LSI在線(xiàn)分析 | 數據庫整理 |
| 器件端口特征曲線(xiàn)測試 | 系統維修日記 | 使用原測試軟件 | TVDE高級測試平臺 | 全面網(wǎng)絡(luò )測試 |
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對應于“單個(gè)器件功能測試”中的12個(gè)功能
| MSI在線(xiàn)功能測試 | MSI離線(xiàn)功能測試 | MSI在線(xiàn)型號識別 | MSI離線(xiàn)型號識別 |
| MS在/離線(xiàn)循環(huán)測試 | RAM離線(xiàn)*測試 | RAM在線(xiàn)快速測試 | RAM在線(xiàn)*測試 |
| PROM離線(xiàn)空檢測 | LSI離線(xiàn)功能測試 | LSI在線(xiàn)功能測試 | LSI離線(xiàn)測試庫更新 |
對應于“PROM操作”中的11個(gè)子功能
| PROM離線(xiàn)*學(xué)習 | PROM離線(xiàn)*比較 | PROM在線(xiàn)快速顯示 | PROM離線(xiàn)學(xué)習庫內容轉換 |
| PROM在線(xiàn)快速學(xué)習 | PROM在線(xiàn)快速比較 | PROM在線(xiàn)*學(xué)習 | PROM在線(xiàn)*學(xué)習庫內容顯示 |
| PROM在線(xiàn)*比較 | PROM離線(xiàn)學(xué)習庫內容顯示 | PROM在線(xiàn)*學(xué)習庫內容轉換 |
對應于“VI曲線(xiàn)分析”中的4大功能
| VI曲線(xiàn)學(xué)習 | VI曲線(xiàn)比較 | VI曲線(xiàn)顯示 | 雙板直接對比 |
對應于“IC狀態(tài)測試”中的3大功能
| IC狀態(tài)學(xué)習 | IC狀態(tài)比較 | IC狀態(tài)顯示 |
對應于“LSI在線(xiàn)分析”中的3大功能
| LSI在線(xiàn)學(xué)習 | LSI在線(xiàn)比較 | LSI在線(xiàn)顯示 |
對應于主框架的17項功能按鈕
| 單個(gè)器件功能測試 | IC狀態(tài)測試 | VI曲線(xiàn)分析 |
| PROM操作 | LSI在線(xiàn)分析 | 模擬器件直接測試 |
| 系統自檢 | 數據庫整理 | 建立系統維修日記文件 |
| 原測試軟件 | TVDE高級測試平臺 | 全面網(wǎng)絡(luò )測試 |
| 交疊方式排列窗口 | 非交疊方式排列窗口 | 分割窗口 |
| 主界面 | 進(jìn)入系統幫助 | |
對應于“模擬器件直接測試”菜單的3大功能
熱鍵
| ·Alt+L 進(jìn)入“LSI在線(xiàn)分析”界面 | ·Alt+M 進(jìn)入“數據庫整理”界面 |
| ·Alt+N 進(jìn)入“全面網(wǎng)絡(luò )測試”界面 | ·Alt+O 進(jìn)入原測試軟件界面 |
| ·Alt+R 進(jìn)入“PROM操作”界面 | ·Alt+S 進(jìn)入“IC狀態(tài)測試”界面 |
| ·Alt+T 進(jìn)入“系統自檢”界面 | ·Alt+V 進(jìn)入“VI曲線(xiàn)分析”界面 |
| ·F1 獲取幫助 | ·Alt+X 退出本系統 |
系統運行環(huán)境
| 操作系統 ： Win 9X 或 Windows XP | 內 存 ： ≥16M |
| C P U ： PII 以上 | 硬盤(pán)空間 ： ≥25M |
| 顯 示 ： 1024×768，24位真彩色 | 鼠 標 ： *，可為任意型號 |
| 電 源 ： 220V/50Hz | |
固話(huà)：0512-68790450 
手機：13915418480 
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